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GB/T 17444-2013 红外焦平面阵列参数测试方法

GB/T 17444-2013 Measuring methods for parameters of infrared focal plane arrays

国家标准 中文简体 现行 页数：28页 | 格式：PDF

基本信息

标准号
GB/T 17444-2013
相关服务
  仅限个人学习交流使用
标准类型
国家标准
标准状态
现行
中国标准分类号（CCS）
L52 红外焦平面阵列参数测试方法
国际标准分类号（ICS）
31.260
发布日期
2013-11-12
实施日期
2014-04-15
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
工业和信息化部电子工业标准化研究所
适用范围
-

发布历史

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GB/T 17444-2013 红外焦平面阵列参数测试方法
GB/T 17444-2013 红外焦平面阵列参数测试方法
GB/T 17444-2013 红外焦平面阵列参数测试方法
GB/T 17444-2013 红外焦平面阵列参数测试方法
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研制信息

起草单位：
中国科学院上海技术物理研究所
起草人：
丁瑞军、梁平治、唐红兰、陈洪雷、曹妩媚、殷建军、陈世军
出版信息：
页数：28页 | 字数：48 千字 | 开本： 大16开

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