GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法
GB/T 15651.3-2003 Discrete semiconductor devices and integrated circuits—Part 5-3:Optoelectronic devices—Measuring methods
国家标准
中文简体
现行
页数:28页
|
格式:PDF
基本信息
标准号
GB/T 15651.3-2003
相关服务
仅限个人学习交流使用
标准类型
国家标准
标准状态
现行
中国标准分类号(CCS)
L50 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法
国际标准分类号(ICS)
31.260
发布日期
2003-11-24
实施日期
2004-08-01
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
归口单位
中国电子技术标准化研究所(CESI)
适用范围
-
发布历史
-
2004-08
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研制信息
- 起草单位:
- 华禹光谷股份有限公司半导体厂
- 起草人:
- 陈兰、那仁、王守华
- 出版信息:
- 页数:28页 | 字数:48 千字 | 开本: 大16开
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