关闭预览GB/T 14849.5-2014 工业硅化学分析方法 第5部分：杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法
GB/T 14849.5-2014 Methods for chemical analysis of silicon metal—Part 5:Determination of impurity contents—X-ray fluorescence method
国家标准
中文简体
现行
页数：12页
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格式：PDF
基本信息
标准号
GB/T 14849.5-2014
相关服务
仅限个人学习交流使用
标准类型
国家标准
标准状态
现行
中国标准分类号（CCS）
H12 工业硅化学分析方法 第5部分：杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法
国际标准分类号（ICS）
77.120.10
发布日期
2014-12-05
实施日期
2015-05-01
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC 243)
适用范围
-
发布历史
-
2011-11
-
2015-05
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研制信息
- 起草单位：
- 昆明冶金研究院、中国铝业股份有限公司山东分公司、云南永昌硅业股份有限公司
- 起草人：
- 刘英波、赵德平、杨海岸、周杰、杨毅、张爱玲、胡智弢、张晓平、刘汉士、刘维理、马启坤、唐飞、白万里、王宏磊、常智杰、聂恒声、金波、王云舟
- 出版信息：
- 页数：12页 | 字数：13 千字 | 开本： 大16开
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