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GB/T 14028-2018 半导体集成电路　模拟开关测试方法

GB/T 14028-2018 Semiconductor integrated circuits—Measuring method of analogue switch

国家标准 中文简体 现行 页数：28页 | 格式：PDF

基本信息

标准号
GB/T 14028-2018
相关服务
  仅限个人学习交流使用
标准类型
国家标准
标准状态
现行
中国标准分类号（CCS）
L56 半导体集成电路　模拟开关测试方法
国际标准分类号（ICS）
31.200
发布日期
2018-03-15
实施日期
2018-08-01
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
适用范围
-

发布历史

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GB/T 14028-2018 半导体集成电路　模拟开关测试方法
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研制信息

起草单位：
中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所、圣邦微电子(北京)股份有限公司、西北工业大学
起草人：
张冰、李雷、陈志培、闫辉、朱华、黄德东
出版信息：
页数：28页 | 字数：46 千字 | 开本： 大16开

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