关闭预览GB/T 11685-2003 半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法
GB/T 11685-2003 Measurement procedures for semiconductor X-ray detector system and semiconductor X-ray energy spectrometers
国家标准
中文简体
现行
页数：32页
|
格式：PDF
基本信息
标准号
GB/T 11685-2003
相关服务
仅限个人学习交流使用
标准类型
国家标准
标准状态
现行
中国标准分类号（CCS）
F80 半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法
国际标准分类号（ICS）
27.120.01
发布日期
2003-07-07
实施日期
2004-01-01
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
归口单位
核工业标准化研究所
适用范围
-
发布历史
-
2004-01
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研制信息
- 起草单位：
- 核工业标准化研究所
- 起草人：
- 熊正隆
- 出版信息：
- 页数：32页 | 字数：54 千字 | 开本： 大16开
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